Linealidad, ruido y distorsión convertidos en requisitos de arquitectura
Métricas como SNR, ENOB y THD, clásicas de la instrumentación analógica, guiaron la adopción de aritmética de saturación, modos de redondeo configurables y dithering controlado en DSPs y extensiones SIMD. La necesidad de preservar rango dinámico frente a acumulaciones largas influyó en anchos de registros, diseños de acumuladores y estrategias de escalado. Así, el silicio integra, casi de forma invisible, criterios de fidelidad aprendidos al medir señales frágiles y canales ruidosos.